Langer 集成電路測試環境 ICE1 套件 ,ICE1 Langer 現貨
集成電路測試環境 ICE1套 件產品介紹：
利用集成電路（IC）測試系統，通過有針對性地施加騷擾（傳導耦合以及電磁場耦合），可以分析電路的特性及其干擾發射情況，下圖所示被測IC電路功能測試的試驗裝置，
Langer 集成電路測試環境 ICE1 套件 ,
集成電路用戶通過該測試系統獲 取IC的電磁兼容性能參數，可以
1、在IC的開發階段就考慮電磁兼容性能參數2、根據IC的電磁兼容性能參數，調整布局設計。3、通過比較多種IC的電磁兼容性能參數，為具體應用選擇 IC.集成電路生產商可以利用該系統測量IC的EMC參數，並在開發的過程中改善IC的電磁兼容特性：1、通過集成電路的引腳和電磁場測量其EMC參烽。2、查找分析集成電路出現的撥入薄弱點的原因3、有效地開發集成電路的電磁兼容性能。
