Langer E1 抗干擾開發系統

E1抗干擾性開發系統是一套集成電路板開發過程中進行抗干擾分析的 EMC工具系統。採用E1抗干擾開發系統，能夠快速 地定位脈衝群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點），使工程師開發人員能夠準確針對薄弱點設計恰當的 EMC措施，並且使用 E1 評估 EMC措施的效果。E1 檢測設備的搭建空間小，適宜於在電子元件開發人員的工作場地使用。E1 用戶手冊對EMC工作機制以及集成電路板去干擾的基本測量策略作出詳細描述。E1 組套包括一個脈衝群干擾和靜電放電干擾發生器、九種不同的電場和磁場源、以及其他各類附件。